一、產品特性:
1、可在同一儀器上實現多種測量功能，真正意義上的萬能摩擦磨損測試；
2、符合ASTM3702，ASTM G99與ASTM G133等國際標準；
3、用于進行實時監測摩擦系數曲線；
4、有旋轉，線性往復，環-塊，環-環四種工作模式；
5、采用位置譯碼器與速度譯碼器可準確控制馬達控制速度與位置；
6、可測量靜摩擦系數及Stribeck曲線；
7、*大載荷：100N；
8、轉度：0.01-5000rpm，15000rpm可選；
9、密封式裝置，可以控制環境，如：氣體、濕度、潤滑等；
10、高溫模式選件，*高可測1100℃環境下的摩擦磨損；
11、實時接觸電阻測量選件可提供接觸電阻測試
12、表面形貌測試模塊選件用于測量磨損率,磨損前后二維表面形貌、磨損面積、磨損率、磨損深度、平整度、線粗糙度參數（Ra，Rp，Rv，Rz，Rc，Rt，Rq，Rsk，Rku，）等表面參數
13、原位電化學工作站選件，搭配普林斯頓的電化學工作站進行摩擦腐蝕方向的研究。
14、真空模塊選件，可實現真空環境下的摩擦磨損測試。
15、低溫模塊選件，可實現低溫-150℃下的摩擦磨損測試.
二、產品應用
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半導體技術：
·鈍化層
·金屬涂敷
·焊墊
醫療:
·藥片
·植入物
·生物組織
光學元件：
·棱鏡
·光纖
·光學元件涂層
·高容量光存儲：
·磁盤涂層
·CD涂層
·薄膜
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耐磨材料涂層：
·TiN,
TiC, DLC
·切削工具
工程：
·橡膠
·觸摸屏
·涂層
微電子器件系統
裝潢金屬涂層
汽車：
·噴漆涂層
·玻璃印刷層
·汽車精加工部件
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三、技術參數
主機參數：
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參數
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旋轉模式
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載荷范圍
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50mN-100N
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載荷分辨率
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6μN
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旋轉速度
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0.01-5000rpm/0.05-15000rpm
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*大扭矩
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4.4Nm
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*大摩擦力
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+/-100N
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摩擦力分辨率（理論）
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6μN
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X軸自動控制范圍
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50mm
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X軸半徑分辨率
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2.5μm
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儀器尺寸
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65cm×52cm×65cm
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重量
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約70Kg
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盤尺寸
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100mm
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接觸探頭
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可選針型、球形與銷型
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線性往復模式
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*大振幅
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25mm
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*大掃描頻率
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60Hz@5mm沖程
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潤滑控制系統（可選）
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液體消耗率
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60-90cm3/hour
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液體容量
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120ml
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液體容器
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包含
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高溫測量系統（可選）
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箱體溫度（旋轉模式）
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1100℃
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加熱片（線掃描模式）
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800℃
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液體加熱模式
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150 ℃
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分辨率
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1℃
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低溫模塊（可選）
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-40℃/-150℃
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深度傳感器（可選）
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*大位移量
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2000μm
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分辨率
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0.1nm
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接觸電阻（可選）
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*大阻抗
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0-1000
Ohms
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表面形貌儀模塊技術參數：
NANOVEA公司提供兩種光學測量探頭可供用戶選擇：
EP110(用于磨損較淺的情況)光學測量探頭的技術參數如下：
1) Z方向測量范圍：100μm
2) Z方向測量分辨率：20nm
3) Z方向測量精度：50nm
4）橫向光學分辨率：3μm
5）光斑直徑：6μm
6)工作距離：1mm
EP1500(用于磨損較深的情況)光學測量探頭的技術參數如下：
1) Z方向測量范圍：1.5mm
2) Z方向測量分辨率：200nm
3) Z方向測量精度：300nm
4）橫向光學分辨率：3.5μm
5）光斑直徑：7μm
6)工作距離：2.3mm
